产品名称:表面污染测量仪

产品型号:

更新时间:2023-11-13

产品报价:

产品特点:JB4100A型α、β表面污染测量仪,可用于检测α、β射线。可选配外接探头,用于测量x、γ射线。仪器采用大面积薄片塑料双闪探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α、β辐射表面污染检测的理想仪器。该仪器采用单片机控制,大屏幕 LCD 液晶显示器,操作方便、显示清晰,带背光显示。

表面污染测量仪的详细资料:

简介

JB4100Aαβ表面污染测量仪,可用于检测αβ射线。可选配外接探头,用于测量xγ射线。JB4100Aαβ表面污染测量仪采用大面积薄片塑料双闪探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行αβ辐射表面污染检测的理想仪器。该仪器采用单片机控制,大屏幕 LCD 液晶显示器,操作方便、显示清晰,带背光显示。其适用场所为:

² 探测和测定表面污染程度

² 在操作放射性核素时,检测可能存在的放射性暴露量

² 调查环境污染度

² 建筑装饰材料的定性放射性测定

 

特点

大面积薄片塑料双闪探测器,有效探测面积可达170cm2

中文界面,软件功能强,操作简单

αβ射线可同时测量也可单独测量

可外置探测器,测量χ、γ射线

两种测量模式:含本底测量净测量

可存储4000组报警数据

LCD 液晶显示,会话式操作界面就

嵌入式操作系统,运行速度更快

240*160分辨率,点阵液晶显示器屏幕亮度、清晰度更高

便携式一体设计,外观具有亲和力,材质更轻

 

主要技术指标

α、β部分

测量范围:1106s-1

显示单位:Bq/cm2CPSBq

探测面积:170 cm2

表面发射率响应α表面发射率响应0.20      β表面发射率响应0.15

仪器本底:α探头本底计数率3计数/        β探头本底计数率25计数/

相对固有误差:20%

Xγ部分

探测器配置:NaI(外置)

剂量率范围: 0.01µSv/h ~200µSv/h

相对固有误差:不超过-15%22%

能量响应:不超过-23%43%

供电电源:3节普通 5 号电池,整机功耗260mA

    1500g   

    寸:24.5×14.5×12.5cm

 相关同类产品:

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

版权所有  ICP备案号:沪ICP备17041253号-2技术支持:化工仪器网   管理登陆  总流量:194622  网站地图