1、HD-175型活度计技术指标
l 测量核素：190个；
l 相对基本误差：±2.2%；
l 长期稳定性：±0.12%；
l 分辨率：1KBq(0.03μCi)；
l 重复性：±0.12%；
l 量程：3.7KBq—370GBq；
l 低能探测限：13KeV；
l 测量时间：1-13s，可连续测量。
2、高压电离室结构特点
l 电离室坪斜：0.008%；
l 噪声电流：±2×10-14 A；
l 噪声本底(60Co)：1KBq。
3、单片机配置型
l 单片机、液晶屏、12位A/D；
l 232口与Pc机通讯、宽行高速微打；
l 核素活度、递衰活度及半衰期测量；
l 监督源校正、时间换算和参数查询；
l 自动换档和扣除本底。
4、Pc机配置型
l Pc机、12位A/D；
l 核素活度和递衰活度测量；
l 监督源校正、时间换算和参数查询；
l 半衰期测量和误差计算；
l 最小二乘法计算斜率、截距和标准偏差。
5、灵敏度和井深轴向曲线
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